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| 专利/申请号： | CN202411164354.X | 专利名称： | 基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统 |
| 申请日： | 2024-08-23 | 申请/专利权人 | 苏州鼎甄智能科技有限公司 |
| 专利类型： | 发明 | 地址： | 江苏省苏州市常熟市碧溪街道四海路11号 |
| 专利状态： | 已下证 查询审查信息 | IPC分类号： | G01N23/046 分类检索 |
| 公开/公告日： | 2025-04-29 | 转让价格： | 【平台担保交易】 |
| 公开/公告号： | CN119044219B | 交易状态： | 等待洽谈 搜索相似专利 |
| 浏览量： | 37 | 所属领域： | 半导体制造技术 精密仪器与测量 自动化检测系统 材料科学专利转让搜索 |
应用场景：集成电路封装过程中微细孔道的质量监控;电子元件生产中的微观结构缺陷识别;工业自动化产线的在线无损检测;高端装备制造领域的精密组件质量评估
摘 要：本发明公开了一种基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统，包括以下步骤：首先获取目标工件的计算机断层扫描数据，构建三维模型，并确定微细孔通道的分布，生成分布图。然后，基于深度优先搜索算法对通道分布图进行分析，确定缺陷检测路径。接着，获取标准缺陷图像数据和不同环境特征下的环境‑缺陷图像数据，分析图像几何偏差对检测精度的影响，得到影响数据。最后，根据影响数据制定不同环境下的缺陷检测策略，并结合检测路径构建完整的缺陷检测方案。本发明提高了微细孔通道缺陷检测的精度与效率。
| 交易方 | 企业 | 个人 |
| 买家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（签字） |
| 专利转让委托书（需盖公章）一式两份 | 专利转让委托书（需签字）一式两份 | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 卖家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（需申请人签字） |
| 解除代理委托书（需盖公章）一式两份（如专利通过代理机构申请） | 解除代理委托书（需签字）一式两份（如专利通过代理机构申请） | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
| 专利证原件（若授权下证） | 专利证原件（若授权下证） |
| 日期 | 法律信息 | 备注 |
| 申请号 | 专利名称 | 发布日期 |
| 202411164354X | 【发明】基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统 | 2025/09/12 |
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