发明专利已授权

基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方法涉及方法及系统

📄 申请号：CN202411164354.X 📄 发布日：2026/03/20

著录项目信息

申请日

2024-08-23

公开号

CN119044219B

公开日

2025-04-29

申请人

苏州鼎甄智能科技有限公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N23_046

IPC 分类号

G01N23_046 , G01N23_04 , G06T7_13 ,

技术画像

所属领域

检测方法缺陷检测机器视觉微细加工质量检测检测方法

应用场景

工业自动化, 半导体制造, 精密零部件检测, 微孔加工质量检测, 在线质量检测

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摘要

本发明公开了一种基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统，包括以下步骤：首先获取目标工件的计算机断层扫描数据，构建三维模型，并确定微细孔通道的分布，生成分布图。然后，基于深度优先搜索算法对通道分布图进行分析，确定缺陷检测路径。接着，获取标准缺陷图像数据和不同环境特征下的环境‑缺陷图像数据，分析图像几何偏差对检测精度的影响，得到影响数据。最后，根据影响数据制定不同环境下的缺陷检测策略，并结合检测路径构建完整的缺陷检测方案。本发明提高了微细孔通道缺陷检测的精度与效率。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

汽车车灯自动调节控制系统

当前第 / 件

一种基于机器视觉的芯片加工智能检测方法及系统

同领域国内专利 · IPC: (G01N23_046)

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