发明专利 已授权

一种基于阻止本领和随机散射的质子径迹与剂量模拟方法

📄 申请号:CN202610013197.5 📄 发布日:2026/08/04

著录项目信息

申请日
2026-01-07
公开号
CN121480213B
公开日
2026-03-27
申请人
南京信息工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

质子治疗, 放射治疗计划, 医学剂量验证

摘要

本发明提供了一种基于阻止本领和随机散射的质子径迹与剂量模拟方法,包括以下步骤:S1.读取靶材的质子阻止本领、连续慢化近似射程和绕行因子数据;S2.利用基础辐射参数表产生适合当前能量的自适应散射步长;S3.以绕行因子为判据,优化散射角修正因子中的经验参数;S4.计算散射角标准差,产生符合高斯分布的单次散射角;S5.计算质子的单次散射径迹和能损;S6.迭代模拟单次散射和能损计算,直到质子动能为零或穿越靶材;S7.输出质子完整径迹和剂量分布曲线。本发明将质子阻止本领曲线和散射理论相结合,以绕行因子为判据确保粒子散射统计行为的正确性,实现质子输运径迹和辐射剂量的快速模拟和准确计算。

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图2
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