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本发明提供了一种基于阻止本领和随机散射的质子径迹与剂量模拟方法，包括以下步骤：S1.读取靶材的质子阻止本领、连续慢化近似射程和绕行因子数据；S2.利用基础辐射参数表产生适合当前能量的自适应散射步长；S3.以绕行因子为判据，优化散射角修正因子中的经验参数；S4.计算散射角标准差，产生符合高斯分布的单次散射角；S5.计算质子的单次散射径迹和能损；S6.迭代模拟单次散射和能损计算，直到质子动能为零或穿越靶材；S7.输出质子完整径迹和剂量分布曲线。本发明将质子阻止本领曲线和散射理论相结合，以绕行因子为判据确保粒子散射统计行为的正确性，实现质子输运径迹和辐射剂量的快速模拟和准确计算。