发明专利 已授权

芯片仿真模型的测试方法及系统

📄 申请号:CN202510151261.1 📄 发布日:2026/04/08

著录项目信息

申请日
2025-02-11
公开号
CN120124544A
公开日
2025-06-10
申请人
深圳市瑞凯鸿辰科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

芯片设计验证, 集成电路测试, 电子设计自动化, 半导体研发, 系统级芯片验证

摘要

本发明涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种芯片仿真模型的测试方法及系统。所述方法包括以下步骤:采集目标芯片仿真模型并进行时序补偿以生成抖动补偿数据,随后进行眼图重构以获取波形眼图数据,对波形数据进行幅度归一化和时序相位校正,得到净化对齐数据,通过正交映射处理和模态投影分析生成主模态数据,构建核空间数据并进行流形认知聚合以生成测试覆盖特征,对这些特征进行边界解析和密度分布分析,得到聚类边界数据,最后调优边界精度并执行自适应测试序列,生成测试用例结果。本发明实现了更高效的芯片仿真模型测试方法。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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