发明专利 已授权

一种SiO2/Sb类超晶格纳米相变薄膜材料及其制备方法和应用

📄 申请号:CN201610851659.7 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2016-09-26
公开号
CN106185799B
公开日
2018-11-23
申请人
江苏理工学院
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

相变存储器, 光存储, 电子存储器件

摘要

本发明涉及纳米材料技术领域,涉及一种SiO2/Sb类超晶格纳米相变薄膜材料及其制备方法和应用。本发明的材料包括二氧化硅薄膜材料和单质锑薄膜材料,二者通过磁控溅射法进行纳米量级的交替叠加。本发明的材料的结构通式为[SiO2(a)/Sb(b)]x,其中:a表示单层SiO2薄膜的厚度(nm),并且1≤a≤9;b表示单层Sb薄膜的厚度(nm),并且1≤b≤8;x表示单层SiO2薄膜和单层Sb薄膜的交替周期数,并且x为任一正整数。本发明的SiO2/Sb类超晶格纳米相变薄膜材料具有较快的相变速度、较好的热稳定性以及较低的操作功耗,适合于制备高速、高稳定性、低功耗相变存储器,极具市场前景。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

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