发明专利 已授权

一种实现高电压集成CMOS器件的器件结构和制备方法

📄 申请号:CN201510332958.5 📄 发布日:2025/10/22

著录项目信息

申请日
2015-06-15
公开号
CN105097697B
公开日
2019-04-05
申请人
上海新储集成电路有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

电源管理, 汽车电子, 通信设备, 消费电子, 工业控制

摘要

本发明涉及半导体器件制作技术领域,具体涉及一种实现高电压集成CMOS器件的器件结构和制备方法,本发明通过深沟槽刻蚀工艺形成一种CMOS器件结构,实现了在先进工艺下无法实现高压驱动晶体管的难题,利用深沟槽隔离工艺实现立体栅结构晶体管,在先进工艺下增加了晶体管的实际沟道长度和栅绝缘层厚度,从而使晶体管能够在较高电压下正常工作,增强其电压驱动能力。本发明利用深沟槽隔离工艺实现高压CMOS器件的方法兼容标准CMOS工艺,工艺步骤简单,成本较低,面积小,可实现先进CMOS工艺集成高电压驱动的功能。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20190405
✅ 授权
20151223
?? 实质审查的生效 :
20151125
📄 公开
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:107 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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