发明专利 已授权

一种集成双自偏置MOS低关断损耗的RC-LIGBT器件

📄 申请号:CN202210517761.9 📄 发布日:2026/08/27

著录项目信息

申请日
2022-05-12
公开号
CN114937666A
公开日
2022-08-23
申请人
重庆邮电大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

电能变换, 新能源汽车, 光伏逆变器, 工业电机驱动, 电源管理

摘要

本发明涉及一种集成双自偏置MOS低关断损耗的RC‑LIGBT器件,属于半导体技术领域。本发明的LIGBT器件,具有以下结构及性能特征:(1)反向导通MOS与低关断损耗MOS均包含N‑base﹑P‑base和N+集电极,金属栅极通过多晶硅层分别与N‑base和N+集电极短接,无需额外栅信号控制。(2)正向导通时,无负阻效应;反向导通时,当VGS,RC>VTH,反向导通MOS自动开启,器件实现反向导通;在关断时刻,器件满足VGS,FC>VTH,低关断损耗MOS开启,电子可以通过低关断损耗MOS抽取,减小了关断时间,降低了关断损耗。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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