发明专利已授权

基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统

📄 申请号：CN201610285929.2 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2016-04-29

公开号

CN105785386A

公开日

2016-07-20

申请人

杭州电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01S17_32

IPC 分类号

G01S17_32

技术画像

所属领域

激光测距激光测距光学干涉测量调频连续波技术

应用场景

工业精密测量, 智能制造, 航空航天测距, 计量校准, 无人驾驶

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摘要

本发明公开了基于F‑P标准具的高精度调频连续波激光测距系统。现有调频连续波测距系统以光纤长度作为基准，受外界影响大。本发明中可调谐激光器发射的激光经分路器分为A0、B0两路，B0路进入马赫增德尔干涉系统，A0路由分光棱镜分为A1、A2两路，A1路进入测量干涉系统，测量干涉系统和第一光电探测器对被测反射棱镜进行探测，产生干涉信号；A2路激光与F‑P标准具发生干涉后，由第二光电探测探测得到干涉信号；B0路激光与马赫增德尔干涉系统发生干涉，并由第三光电探测器探测得到干涉信号；同步采样系统将三路同步采样信号发送至上位机处理得出被测目标距离。本发明消除外界因素对马赫增德尔干涉系统两干涉臂光程差的影响。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20171124

✅ 授权

20160817

?? 实质审查的生效：

20160720

📄 公开

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