发明专利 已授权

一种常压下硅基锗纳米点的制备方法

📄 申请号:CN202010042736.0 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2020-01-15
申请人
陕西科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

半导体器件, 光电子器件, 量子计算, 纳米电子学

摘要

本发明公开了一种常压下硅基锗纳米点的制备方法,属于锗纳米点制备技术领域。该制备方法包括清洗硅片;在干燥后的硅片上喷铂金层,将处理好的硅片放到条形容器的一端,另一端放入锗粉,盖上盖子,然后对装有锗粉的一端进行加热,同时向条形容器内通入氩气,氩气自装有锗粉的一端进入条形容器,直至加热结束,经降温后得硅基锗纳米点。本发明的制备方法技术易操作,设备简单,设备价格较低,没有污染物,生长周期短。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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