发明专利已授权

一种基于超参数残差卷积与聚类融合的X光安检物品识别方法与系统

📄 申请号：CN202210637263.8 📄 发布日：2026/04/30

著录项目信息

申请日

2022-06-07

公开号

CN114926785B

公开日

2024-08-23

申请人

大连东软信息学院

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06V20_52

IPC 分类号

G06V20_52 , G06V10_82 , G06V10_80 , G06V10_762 , G06N3_0464 , G06N3_0985 ,

技术画像

所属领域

图像识别图像识别深度学习卷积神经网络

应用场景

X光安检, 违禁品检测, 智慧安防, 机场安检, 公共安全

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摘要

本发明公开了一种基于超参数残差卷积与聚类融合的X光安检物品识别方法及系统，包括，基于FasterRCNN目标检测算法创建模型并初始化，构建并处理X光安检物品数据集；改进FasterRCNN目标检测算法为超参数残差卷积与聚类融合网络模型架构，将处理后的X光安检数据集用于模型框架内，调试相关参数对超参数残差卷积与聚类融合网络模型迭代训练，得到预期的测试效果；将模型封装保存并部署至人工智能开发板。本发明可解决X光安检图像中特定物品识别准确度低、检测速度慢等问题，降低因人员疲劳或注意力不集中带来的漏报等问题，提高公共场所智能化通行技术。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种实现3D特效编辑器的方法

当前第 / 件

可飞行时充电的辅助通信无人机轨迹规划与功率控制方法

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