发明专利 已授权

一种基于激光制作沟槽MOSFET的方法与装置

📄 申请号:CN202110120600.1 📄 发布日:2025/12/09

著录项目信息

申请日
2021-01-28
公开号
CN112872610A
公开日
2021-06-01
申请人
常州大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

电力电子, 功率半导体器件, 集成电路制造, 电源管理, 新能源汽车

摘要

一种基于激光制作沟槽MOSFET的方法与装置,属于半导体领域。本发明解决了在半导体衬底上形成外延层表面后,采用三组激光制备沟槽和方形坑的问题,采用‑x方向、‑y方向激光,其出射口位于凸透镜的焦点处,通过凸透镜后以平行光射向铅光阑照射到外延层表面,形成相互垂直系列等间距的沟槽,这些沟槽之间形成二维方阵凸起;采用‑z方向激光通过凸透镜和铅模板,对这些凸起照射形成二维阵列方形坑;对方形坑注入另一种导电型半导体,利用刻蚀方法对沟槽中沉积的多晶硅与在外延层侧面的氧化物,形成控制栅电极和屏蔽栅电极,最后在外延层表面形成金属源极,在半导体衬底表面形成金属漏极。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

……

……

图1
图2
图3

法律状态时间线

20221213
✅ 授权
20210618
?? 实质审查的生效 :
20210601
📄 公开

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