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基于太赫兹波的复折射率测量方法、系统、介质及设备

Name: 基于太赫兹波的复折射率测量方法、系统、介质及设备
Brand: 齐鲁工业大学(山东省科学院)
SKU: 2024110898096
Availability: InStock

📄 申请号：CN202411089809.6 📄 发布日：2025/11/17

著录项目信息

申请日

2024-08-09

公开号

CN118624564B

公开日

2024-11-19

申请人

齐鲁工业大学(山东省科学院)

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N21_41

IPC 分类号

G01N21_41

技术画像

所属领域

太赫兹检测技术太赫兹检测技术光学测量复折射率测量

应用场景

材料分析, 无损检测, 安检成像, 生物医学检测, 科研仪器

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摘要

本发明提出了一种基于太赫兹波的复折射率测量方法、系统、介质及设备，方法包括：获取衍射条件下太赫兹波的一般场强表达式；基于一般场强表达式构建太赫兹辐射的波动方程，根据波动方程和高斯光束特性得到包含光束参数的场振幅；将场振幅代入一般场强表达式，得到包含光束参数的场强表达式；测量场强数值和太赫兹波沿z轴传播的实时数值，基于测量数值和包含光束参数的场强表达式得到光束的光斑尺寸；根据光斑尺寸计算复折射率。本发明考虑衍射条件下太赫兹高斯光束分布的情况，在此基础上给出太赫兹辐射在强衍射条件下的分布模型，根据高斯光束特性求解吸收系数参数，从而提高材料复折射率测量的准确性。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN118624564B

购买这项专利需要经过哪些流程？

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该专利的转让价格是多少？

当前标价为议价，可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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议价

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