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本发明提出了一种基于太赫兹波的复折射率测量方法、系统、介质及设备，方法包括：获取衍射条件下太赫兹波的一般场强表达式；基于一般场强表达式构建太赫兹辐射的波动方程，根据波动方程和高斯光束特性得到包含光束参数的场振幅；将场振幅代入一般场强表达式，得到包含光束参数的场强表达式；测量场强数值和太赫兹波沿z轴传播的实时数值，基于测量数值和包含光束参数的场强表达式得到光束的光斑尺寸；根据光斑尺寸计算复折射率。本发明考虑衍射条件下太赫兹高斯光束分布的情况，在此基础上给出太赫兹辐射在强衍射条件下的分布模型，根据高斯光束特性求解吸收系数参数，从而提高材料复折射率测量的准确性。

本实用新型公开了一种便于维修的太赫兹检测仪，包括检测仪器，所述检测仪器的背面通过合页活动连接有维护盖，所述维护盖的背面固定连接有卡块，所述检测仪器的背面固定连接有传动箱，所述传动箱内壁的右侧固定连接有气缸，所述气缸的输出端固定连接有齿板，所述齿板的顶部固定连接有齿轮，所述齿轮的背面通过轴承与传动箱内壁的后侧活动连接，所述齿轮的正面固定连接有传动柱。本实用新型解决了现有市面上大多数的检测仪器不具有便于维护的功能，通常是通过螺栓将维护盖固定在检测仪器的表面，导致检测仪器在维护时过于繁琐，且螺栓容易出现滑丝的情况，无法快速拆卸，影响了检测仪器正常使用的问题，达到了便于维护的效果。