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发明专利
已授权
一种等间距的芯片扩张及巨量转移方法
📄 申请号:CN202110427051.2
📄 发布日:2026/07/23
著录项目信息
申请日
2021-04-20
公开号
CN115223888B
公开日
2024-09-27
申请人
广东工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H01L21_67
IPC 分类号
H01L21_67
,
H01L21_683
,
H01L33_48
,
技术画像
所属领域
巨量转移技术
巨量转移技术
芯片转移技术
半导体制造工艺
应用场景
微型发光二极管显示, 迷你发光二极管显示, 显示面板制造, 半导体芯片封装
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摘要
本发明涉及半导体加工的技术领域,更具体地,涉及一种等间距的芯片扩张及巨量转移方法,包括以下步骤:S10.选择承载膜,将芯片转移到临时键合胶层;S20.分别沿X方向、Y方向拉伸承载膜,直至X方向、Y方向芯片间距扩张至设定值;S30.激光照射临时键合胶层,芯片脱离临时键合胶层并转移至承载基板的焊盘上;S40.重复步骤S10~S30,依次完成多种类型芯片的巨量转移;步骤S20在进行拉伸扩张的过程中,对芯片间距进行实时同步检测;对芯片间距存在偏差的区域,局部修正芯片在阵列中的位置及间距误差,使得所有芯片间距达到所需间距。本发明在拉伸扩张过程中,对芯片间距存在偏差的区域进行修正,使得所有芯片间距达到所需间距,实现芯片的均匀扩张和巨量精准转移。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
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