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摘 要:本发明提出了一种基于FTIR光谱监测的等离子体刻蚀机内部状态维护方法,在等离子体刻蚀机的反应腔室外壁开一个窗口,安装内反射晶体,在窗口的一端安装ATR-FTIR光谱探针,另一端安装红外探测器,使傅里叶变换红外光谱探针发射的光线在内反射晶体内多次反射后,从内反射晶体另一端射出,聚焦到红外探测器,所述碲镉汞探测器与图谱处理系统连接;定期或实时取得等离子体刻蚀机反应腔室内壁的傅里叶变换红外光谱图谱,用于测量所附着的聚合物的组分,通过与标准傅里叶变换红外光谱图谱进行比较,确定是否需要对反应腔室进行清洗,如是,则对等离子体刻蚀机反应腔室进行清洗。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201010186282.0 | 专利名称: | 基于FTIR光谱监测的等离子体刻蚀机内部状态维护方法 |
申请日: | 2010-05-28 | 申请/专利权人 | 重庆邮电大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 重庆市南岸区黄桷垭崇文路2号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H01L21/00搜分类 维护 R F 等离子体搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |