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摘 要:一种基于背栅晶体管的抗辐照技术及实现方法,首先输入边界扫描测试信号,检测输出信号,检测到的输出信号与理想输出信号比较,如果二者近似程度满足要求,则停止测试,如果二者相差较大,通过内建自优化器改变芯片内各个块的背栅偏置,调节各个块内晶体管的阈值电压,通过调解后再检测输出信号,这样一直重复,直至测试输出信号与理想输出信号最大程度接近。通过边界扫描测试检测,内建自优化器调节背栅偏置可有效抑制晶体管的阈值电压偏移,从而改善晶体管的性能,达到抗辐照的功能,且本发明的抗辐照技术具有集成度高,速度快,抗辐照能力强等特点,并且成本低,工艺简单,易于实现。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201410074966.X | 专利名称: | 一种基于背栅晶体管的抗辐照技术及实现方法 |
申请日: | 2014-03-03 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H01L27/04搜分类 晶体管搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |