发明专利 已授权

一种弧面光泽均匀性检测方法

📄 申请号:CN202011590309.2 📄 发布日:2026/06/04

著录项目信息

申请日
2020-12-29
公开号
CN112763502B
公开日
2024-03-12
申请人
华侨大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业自动化, 质量控制, 表面缺陷检测, 产品质检

摘要

本发明公开了一种弧面光泽均匀性检测方法,包括:选制平行间隔待检测弧面弧度的弧形轨道,弧形轨道上装接有相机装夹装置,相机装夹装置上装夹有相机;在待检测弧面的待检测区域边缘设带刻度的标签,标签的刻度方向与待检测弧面弧度平行布置,标签的刻度位于相机拍摄区域边缘;相机沿弧形轨道运动,运动过程中每移动预定行程拍摄一张图片;以标签的刻度为参照,拼接拍摄的图片以得弧面展开图;灰度处理弧面展开图以得灰度矩阵和灰度图片;设定阈值n,对灰度矩阵中的每个灰度值进行检索,由此得二值图像;取一定区域进行黑色像素点占比统计,依据占比统计确定表面光泽分布均匀性。它具有如下优点:结果准确,科学,成本低。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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议价
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