发明专利已授权

一种电子元器件表面缺陷识别方法

📄 申请号：CN202211169832.7 📄 发布日：2026/05/08

著录项目信息

申请日

2022-09-26

公开号

CN115294314A

公开日

2022-11-04

申请人

南通蘅田电子科技有限公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06V10_10

IPC 分类号

G06V10_10 , G06V10_764 , G06T7_00 , G06T7_136 , G06T7_66 ,

技术画像

所属领域

电子元器件图像识别机器视觉缺陷检测电子元器件

应用场景

工业自动检测, 电子元器件制造, 质量控制, 智能制造, 外观缺陷检测

AI 智能推荐 · 同申请人专利 · 搜索相似专利

摘要

本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及一种电子元器件表面缺陷识别方法，该方法获取待识别图像；将待识别图像划分为多个图像区块，筛选出待调整区块拼接为合并区块；获取待调整区块的整体趋势方向；获取待调整区块内每个像素点的离散度方向，基于离散度方向将所有像素点分类；获取每个像素点的离散度；筛选出待处理像素点，对于同一类的待处理像素点，依据每个待处理像素点的离散度方向、离散度以及该类的待处理像素点总数量获取该类的自适应结构元；对每个待处理像素点利用对应的自适应结构元进行形态学闭运算去除噪声，得到去噪图像，通过对去噪图像进行阈值分割得到缺陷识别结果。本发明能够使图像去噪的效果更好，使缺陷结果更加准确。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

温度测量方法及应用该方法的冷藏车温度测量系统

当前第 / 件

一种茂谷柑霉变的快速识别方法

同领域国内专利 · IPC: (G06V10_10)

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：76 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

资金托管权属尽调包过户

🏢 淄博智来知识产权服务有限公司

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📊 出价记录 (3条)

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