发明专利 已授权

一种多尺度电离层TEC预测方法

📄 申请号:CN202011269492.6 📄 发布日:2026/05/07

著录项目信息

申请日
2020-11-13
公开号
CN112287607B
公开日
2022-09-02
申请人
华东交通大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

卫星导航, 无线电通信, 空间天气监测, 航天工程

摘要

本发明公开了一种多尺度电离层TEC预测方法,包括以下步骤:数据去趋势,用最小二乘法将TEC数据拟合为一条直线作为趋势项,原数据减去趋势项得到非趋势项,非趋势项的均值为零;对非趋势项两端分别使用ARMA模型进行拓延得到,以降低VMD分解的端点效应;对利用VMD算法分解为个不同频率的IMF分量,然后将各分量两端的拓延部分去除,分别使用LSTM神经网络进行预测得到预测值;使用ARMA模型预测趋势项得到趋势项预测值,将趋势项的预测值与非趋势项各分量的预测值重构得到最终预测值。提高了预测结果的精度和稳定性。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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