发明专利 已授权

一种面向小样本表面缺陷数据集的样本增广方法

📄 申请号:CN202311021284.8 📄 发布日:2026/08/26

著录项目信息

申请日
2023-08-15
公开号
CN117036859B
公开日
2025-12-05
申请人
中南大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

工业质检, 智能制造, 自动化表面缺陷检测

摘要

本发明公开了一种面向小样本表面缺陷数据集的样本增广方法,主要解决表面缺陷数据集中类别不平衡与样本不足的问题。其实施方案为:1)获取原始数据与人工标签;2)构建样本增广算法;3)样本增广。本发明构建的样本增广方法,采用八邻域描述环境并通过协方差计算环境相似度,实现无语义冲突的跨图像目标复制,解决了类别不平衡问题,实现了缺陷目标的增广。采用缺陷子图与背景子图拼接的方法,将背景子图重新纳入数据集,提升了数据集的样本复杂度,实现了样本增广。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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