发明专利 已授权

一种基于GCC-YOLOv8网络模型的导光板表面缺陷检测方法

📄 申请号:CN202411663183.5 📄 发布日:2026/05/26

著录项目信息

申请日
2024-11-20
公开号
CN119540724A
公开日
2025-02-28
申请人
浙江理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

应用场景

导光板缺陷检测, 液晶显示面板制造, 电子元件质量检测, 工业自动化, 智能制造

摘要

本发明提供一种基于GCC‑YOLOv8网络模型的导光板表面缺陷检测方法,该方法包括以下步骤:获取待检测导光板的图像;将图像输入GCC‑YOLOv8网络模型进行缺陷检测;基于检测结果输出导光板的表面缺陷信息;其中,GCC‑YOLOv8网络模型基于YOLOv8网络模型构建,包括依次设置的骨干网络单元、颈部网络单元和具有三个并行的检测分支的检测头网络单元;骨干网络单元在其末端设有两个GKA‑C2f1模块;颈部网络单元包括FPN网络单元和PAN网络单元,FPN网络单元包括两个上采样模块、两个C2f2模块、两个Concat模块、一个SPPF模块和一个CPCA模块;PAN网络单元包括两个CBS模块、两个Concat模块、两个C2f2模块、三个CPCA模块、一个CFC模块和一个SFC模块。本发明具有较好的导光板表面缺陷检测性能和鲁棒性,并兼顾较佳的检测速度。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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