发明专利 已授权

一种改善光刻胶封装工艺的方法及系统

📄 申请号:CN202311779237.X 📄 发布日:2024/11/05

著录项目信息

申请日
2023-12-22
公开号
CN117891132A
公开日
2024-04-16
申请人
武汉华彩光电有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

摘要

本发明涉及光刻工艺制造技术领域,尤其涉及一种改善光刻胶封装工艺的方法及系统。所述方法包括以下步骤:对光刻芯片表面进行表面预处理和憎水烘干处理,得到光刻芯片粘附憎水性表面;对光刻芯片粘附憎水性表面进行多层光刻胶涂覆封装处理,得到芯片光刻胶涂覆封装层;对芯片光刻胶涂覆封装层进行掩膜成像辅助对位和驻波消除曝光处理,以得到光刻胶封装驻波消除曝光图像;对光刻胶封装驻波消除曝光图像进行显影固化处理和缺陷监测,得到光刻胶封装显影缺陷数据;对光刻胶封装显影缺陷数据进行封装缺陷改善匹配,以生成光刻胶封装缺陷改善策略并执行相应的光刻胶封装缺陷改善作业。本发明能够实现高效的光刻胶封装改善过程。

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是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN117891132A

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20250218
✅ 授权
20250207
⏳ 专利申请权的转移 :
20240503
?? 实质审查的生效 :
20240416
📄 公开

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