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专利详情
实用新型
已授权
一种光刻胶缺陷改善装置
📄 申请号:CN202120511803.9
📄 发布日:2025/09/04
著录项目信息
申请日
2021-03-10
公开号
CN215006243U
公开日
2021-12-03
申请人
泉芯集成电路制造(济南)有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
G03F7_16
IPC 分类号
G03F7_16
技术画像
所属领域
光刻胶
光刻胶
半导体制造设备
光刻工艺
应用场景
半导体制造, 晶圆加工, 芯片生产, 光刻工艺优化
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摘要
本实用新型提供了一种光刻胶缺陷改善装置,包括:反应腔室;固定在所述反应腔室内的基板,所述基板上用于涂布光刻胶;固定在所述反应腔室内的吸附板,所述吸附板用于吸附光刻胶在烘烤过程中产生的光阻颗粒。也就是说,该光刻胶缺陷改善装置通过在反应腔室内设置吸附板,用于吸附光刻胶在烘烤过程中产生的光阻颗粒,不会使这些光阻颗粒掉落在待加工的光刻胶上,进而提高光刻胶加工过程中的加工质量。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
20211203
✅ 授权
机台气体置换设备
当前第 / 件
一种导流盘安装治具
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