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摘 要:本发明公开了一种基于改进的机器视觉注意机制的磁瓦表面缺陷检测方法,步骤为:一、输入磁瓦图像,利用形态学的顶帽和底帽变换相结合的方法,增强图像整体灰度对比度;二、将所得图像均匀分成a*b个图像块,然后利用分块后的图像块的灰度特征量区分缺陷图像块和非缺陷图像块;三、采用改进Itti视觉注意机制模型计算所得缺陷图像块的显著度,选择初级特征用以形成综合显著图;四、选用大津阈值分割算法对综合显著图阈值化,提取缺陷区域。本发明通过利用形态学处理,图像分块和视觉注意机制思想,有效地克服了亮度不均匀、磁瓦缺陷面积较小、磁瓦本身纹理干扰等问题,可以快速、有效地提取各类磁瓦缺陷,具有很强得适应性。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201610479587.8 | 专利名称: | 一种基于改进的机器视觉注意机制的磁瓦表面缺陷检测方法 |
申请日: | 2016-06-24 | 申请/专利权人 | 安徽工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 安徽省马鞍山市花山区湖东路59号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/95搜分类 表 改 港口 检测搜索 |
公开/公告日: | 2018-11-30 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN106093066B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |