发明专利 已授权

近红外发光量子点荧光光谱法测定纳米金浓度的方法

📄 申请号:CN201410237382.X 📄 发布日:2026/11/10

著录项目信息

申请日
2014-05-30
公开号
CN104007095A
公开日
2014-08-27
申请人
桂林理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

纳米金浓度检测, 纳米材料分析, 化学分析检测, 生物医学检测, 环境监测

摘要

本发明公开了一种近红外发光量子点荧光光谱法测定纳米金浓度的方法。在含有近红外发光的Ag2S、Ag2Se或Ag2Te量子点的体系中,加入不同体积的待测纳米金,由于待测纳米金使得近红外发光的Ag2S、Ag2Se或Ag2Te量子点的荧光强度产生有规律的变化,通过分析近红外发光的Ag2S、Ag2Se或Ag2Te量子点点荧光强度变化的量来实现对待纳米金浓度的定量检测;近红外发光的Ag2S、Ag2Se或Ag2Te量子点对纳米金的检测范围分别为5.93-27.09×10-6mol/l、3.39-28.79×10-6mol/l或3.39-16.93×10-6mol/l;其相关系数(r2)分别为0.9956、0.9954或0.9865。本发明的检测方法操作简单、检测快速、成本低。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

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