实用新型 已授权

一种芯片凸点自检机构

📄 申请号:CN202421576304.8 📄 发布日:2026/10/19

著录项目信息

申请日
2024-07-05
公开号
CN223065191U
公开日
2025-07-04
申请人
江苏国光纺织科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

芯片封装, 半导体制造, 集成电路测试, 电子制造质检

摘要

本实用新型涉及芯片自检设备技术领域,尤其涉及一种芯片凸点自检机构。其技术方案,包括:底座,所述底座的上表面固定设置有一组滑轨;滑动设置于滑轨上的检测台,所述检测台的上表面固定设置有用于对不同型号和尺寸芯片进行同时定位的定位组件;固定设置于底座上表面用于支撑的支撑架,所述支撑架的上端固定安装有第一气缸,所述第一气缸的输出端贯穿支撑架并延伸连接有支撑板;固定设置于支撑板底面用于对芯片凸点自检的;设置于支撑板一侧用于方便对芯片进行观察的显微镜。本实用新型能够同时对不同规格和尺寸的芯片进行定位,同时进行传送进行自检,从而提高芯片自检的效率。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN223065191U

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:12 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 已报项目

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