发明专利 已授权

基于F-P干涉仪透射式正交偏振相位显微成像装置

📄 申请号:CN201911091980.X 📄 发布日:2026/08/27

著录项目信息

申请日
2019-11-08
公开号
CN111122510B
公开日
2023-07-21
申请人
桂林电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

生物医学成像, 细胞显微观察, 生物组织切片检测, 透明样本相位成像, 材料微观结构观测

摘要

本发明提供的是一种基于F‑P干涉仪腔内增强型透射式正交偏振相位显微成像装置。其特征是:它由激光光源1、光衰减系统2、激光扩束系统3、F‑P干涉仪4、PBS偏振分光棱镜5、显微物镜6和8、探测相机7和9、计算机10组成。本发明可用于微小物体的数字全息测量,可广泛用于各种物体内部的折射率三维显微成像领域。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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