发明专利已授权

基于F-P腔的相移相位显微成像新方法

📄 申请号：CN201911090469.8 📄 发布日：2026/08/27

著录项目信息

申请日

2019-11-08

公开号

CN111025874B

公开日

2021-06-08

申请人

桂林电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G03H1_00

IPC 分类号

G03H1_00 , G03H1_04 , G03H1_22 , G01B9_021 ,

技术画像

所属领域

光学显微成像光学显微成像干涉测量定量相位成像

应用场景

生物医学显微成像, 细胞无标记成像, 材料表面检测, 微光学元件测量, 工业无损检测

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摘要

本发明提供的是一种基于F‑P腔的相移相位显微成像新方法。其特征是：它包括基于F‑P腔的数字全息图记录、相移法计算相位分布、解包裹、三维相位分布重建和三维折射率转换。本发明主要提供一种基于F‑P腔的相移相位显微成像新方法，相比传统的显微成像方法，具有更高的灵敏度。本发明具有结构简单、灵敏度高、测量精确的优点。本发明可用于光学透明物体的高分辨率三维显微成像，可广泛应用于微小生物的无损、无标记、非接触式的三维层析成像等。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

基于F-P干涉仪反射透射式相位显微成像测量系统

当前第 / 件

基于F-P干涉仪透射式正交偏振相位显微成像装置

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