发明专利已授权

一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置及其方法

📄 申请号：CN202211594553.5 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2022-12-13

公开号

CN115615998A

公开日

2023-01-17

申请人

浙江工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N21_892

IPC 分类号

G01N21_892

技术画像

所属领域

检测装置机器视觉检测表面缺陷检测图像识别检测装置

应用场景

电子元器件质量检测, 工业自动化生产线, 磁芯制造, 智能制造, 在线缺陷检测

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摘要

本发明公开了一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置，包括传送带、固定组件、检测组件；传送带沿固定方向运动，待测磁芯放置在传送带上，待测磁芯由多个圆形磁芯叠加而成，且其轴线与传送带的运动方向垂直；固定组件用于对待测磁芯进行限位，使待测磁芯位于设定的检测区域内，且待测磁芯仅能在传送带的作用下绕待测磁芯的轴线旋转；检测组件用于对待测磁芯的侧面进行图像采样；传送带、固定组件、检测组件相配合，获得待测磁芯完整的侧面图像。圆形磁芯侧面缺陷检测方法使用圆形磁芯侧面缺陷检测装置，通过图像处理技术完成对圆形磁芯侧面缺陷的检测。本发明能检测圆形磁芯的完整圆周侧面，同时能完成多个圆形磁芯的缺陷检测任务。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：22 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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