发明专利已授权

一种基于叠层成像的无透镜成像装置及其相位恢复方法

📄 申请号：CN202010847763.5 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2020-08-21

公开号

CN112051247A

公开日

2020-12-08

申请人

杭州电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N21_64

IPC 分类号

G01N21_64 , G01N21_84 , H04N5_225 ,

技术画像

所属领域

计算成像计算成像相位恢复光学成像

应用场景

生物医学显微成像, 材料无损检测, 科研仪器, 工业检测, 数字全息成像

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摘要

本发明提供一种基于叠层成像的无透镜成像装置及其相位恢复方法。装置包括激光、样本、样本夹持装置、电机、散射层以及图像传感器。在成像过程中不断使用电机在水平方向上移动样本的位置，散射层用于调制激光照射样本后产生的出射光。同时保持样本和图像传感器之间的相对距离保持不变，用图像传感器记录下样本在不同位置下所成的图像，采集200张图像后，使用二维互相关算法和rPIE算法恢复散射层的轮廓以及样本的轮廓。二维互相关算法和rPIE算法使用MATLAB 2018a软件实现。本发明在样本和图像传感器间添加一个散射层，可以用来计算样本在不同位置下的位移，分辨率可以达到的极限从9‑1提升到9‑4。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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