发明专利 已授权

偏振正弦条纹图案校正方法、结构光三维重构方法和系统

📄 申请号:CN202411200989.0 📄 发布日:2026/05/07

著录项目信息

申请日
2024-08-29
公开号
CN118714467B
公开日
2024-11-15
申请人
华东交通大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

应用场景

三维扫描, 工业视觉检测, 逆向工程, 智能制造, 机器视觉

摘要

本公开涉及偏振条纹测量领域,具体涉及一种偏振正弦条纹图案校正方法、结构光三维重构方法和系统,所述校正方法包括:生成不少于四幅不同第一灰度值的灰度图像;获取与所述灰度图像对应的不少于四幅相机图像;将不少于四幅的所述相机图像的第二灰度值和相对应的灰度图像的所述第一灰度值进行拟合得到LCD投影仪的gamma值;基于所述gamma值对所述偏振正弦条纹图案进行校正得到新的偏振条纹图案。本公开计算得到的相位更好,且相位误差有所减小且更加收敛,不需要再进行相位补偿就能够得到理想相位。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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