发明专利 已授权

基于保偏耦合器分光的量子弱测量系统及方法

📄 申请号:CN202310991842.7 📄 发布日:2026/08/04

著录项目信息

申请日
2023-08-08
公开号
CN117110246B
公开日
2026-07-10
申请人
浙江工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

量子精密测量, 量子传感, 光纤传感, 弱信号检测, 光学测量

摘要

基于保偏耦合器分光的量子弱测量系统及方法,系统包括SLD光源、光隔离器、保偏耦合器、待测溶液池、标准溶液池、反射镜以及光谱仪;SLD光源发射激光束,激光束经过光隔离器后通过保偏耦合器进行前选择并分成两路光。测量臂、参考臂的光束分别经过待测溶液池、标准溶液池后出射,出射光受到第一、第二反射镜反射后再次经过待测溶液池、标准溶液池,以此引入相位差,最终返回保偏耦合器进行后选择,耦合的出射光由光谱仪接收并进行中心波长分析。本发明可以降低环境(如杂光、颗粒散射等)对系统的干扰,检测更准确灵敏;利用保偏耦合器,将输入信号以极高的比例分开或者耦合,使投影到后选择态的光强趋于零实现前后选择态的正交,相较于通过偏振垂直的方式,本系统消光比更高,弱值放大作用更显著。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:29 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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