发明专利已授权

薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置及测试方法

📄 申请号：CN200910219260.7 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2009-12-02

公开号

CN101718712B

公开日

2012-03-21

申请人

陕西莱米斯光电科技有限公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N21_88

IPC 分类号

G01N21_88 , G01N21_49 , G01M11_02 ,

技术画像

所属领域

测试装置激光测试技术光学薄膜检测光学元件测试测试装置

应用场景

激光损伤阈值测试, 光学元件质量检测, 薄膜性能评估, 激光系统研发, 光电子器件测试

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摘要

本发明涉及一种薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置及利用该装置的测试方法。由于现有测试装置和测试方法存在较大的误差、对各种薄膜材料适应性差。本发明的一种薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置，包括测试组件和处理组件，测试组件包括Nd:YAG激光器、开关档板，第一分束器、聚焦透镜、第二分束器和样片台，光电二极管阵列、会聚透镜、光电探测器件和CCD照相机等，处理组件包括计算机；测试方法包括将测试结果送采用CCD摄像显微判别法等离子体闪光法来判别不同类型薄膜样品是否发生损伤，判别标准是一项显示损伤即确定。本发明的此种结构和测试方法，使得测试误差极小且无误判发生，并且适应性和实用性强。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种WCu-La₂O₃触头材料及其制备方法

当前第 / 件

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议价

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