发明专利 已授权

一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法

📄 申请号:CN201410160167.4 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2014-04-21
公开号
CN103954627B
公开日
2016-04-06
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

电子元器件质检, 工业自动化, 智能制造, 质量检测

摘要

本发明涉及一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法。目前电子元器件生产过程中的成品缺陷检测主要由人工完成,费时费力,不仅工作量大,而且易受检测人员主观因素的影响,容易造成误检和漏检,检测效率低,劳动强度大。如果在检测中操作不慎,还会对电子元器件造成二次损伤。本发明方法利用非接触式数字图像检测技术来提高电子元器件缺陷检测的效率,提出了一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法。本发明方法通过构造合格及各类缺陷样本库字典基,自适应的对电子元器件的表面缺陷进行自动检测,并对缺陷类别进行自动判别,可以很好的克服人工目测检测方法的不足。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:68 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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