发明专利 已授权

实时测量Mueller矩阵光谱的系统及其测量方法

📄 申请号:CN201910899485.5 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2019-09-23
公开号
CN110567883B
公开日
2022-07-01
申请人
西安理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

材料光学特性表征, 生物医学检测, 薄膜测量, 半导体检测, 偏振成像

摘要

本发明公开了实时测量Mueller矩阵光谱的系统,包括沿入射光线的入射方向依次设有光源、光纤、准直系统、起偏器、第一延迟器、第二延迟器、样品台、第三延迟器、Wollaston棱镜、光谱仪组。本发明还公开了实时测量Mueller矩阵光谱的方法,对光谱仪获取的光谱强度进行傅里叶变换、通道滤波与傅里叶逆变换可复原被测样品表面出射的Stokes矢量S,对S中的四个Stokes参数进行傅里叶变换、通道滤波与傅里叶逆变换可复原出16个Mueller矩阵元素的光谱。本发明避免了通道串扰,测量准确性高,可操作性强。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20220701
✅ 授权
20200107
?? 实质审查的生效 :
20191213
📄 公开
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:33 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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