发明专利 已授权

杂质检测模型的训练方法、检测方法、设备和介质

📄 申请号:CN202110405271.5 📄 发布日:2026/06/16

著录项目信息

申请日
2021-04-15
公开号
CN113312964B
公开日
2024-10-15
申请人
浙江理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业质检, 智能制造, 产品质量检测, 食品药品安全, 材料缺陷检测

摘要

本申请涉及杂质检测模型的训练方法、检测方法、设备和介质,训练方法包括:将含有杂质的训练样本输入待训练的神经网络,得到训练样本的杂质位置的输出结果,其中训练样本包括杂质的已知位置信息和已知光学信号,输出结果包含训练样本的杂质的预测位置和预测光学信号;将预测光学信号和预测位置进行分类,得到第一概率分布;将杂质的已知位置信息和已知光学信号进行分类,形成已知杂质的已知分类数据,并将已知分类数据进行one‑hot编码,得到第二概率分布;利用第一概率分布和第二概率分布,计算损失函数;调整神经网络的网格参数以缩小损失函数。神经网络稳定性强,准确性强。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN113312964B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:87 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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