发明专利已授权

一种基于人工智能的电子元件性能预测方法及系统

📄 申请号：CN202510127745.2 📄 发布日：2026/05/08

著录项目信息

申请日

2025-02-05

公开号

CN119557651B

公开日

2025-05-02

申请人

王俊涛

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06F18_214

IPC 分类号

G06F18_214 , G06F18_21 , G06F17_16 , G06N3_0464 ,

技术画像

所属领域

人工智能算法人工智能算法电子元件测试性能预测

应用场景

电子元件质检, 半导体制造, 电子设备研发, 工业自动化, 智能制造

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摘要

本发明涉及电数字数据处理的技术领域，公开了一种基于人工智能的电子元件性能预测方法及系统。本发明首先获取电子元件的结压降和基区压降，使用接触压降检测法计算接触压降，计算电子元件正向压降，记为第一电子元件性能影响因素；再建立灰色模型，再对灰色模型进行残差修正，得到修正后的灰色模型函数，使用BP神经网络对电子元件电阻进行预测，将预测电阻代入修正后的灰色模型函数中，得到电子元件寿命，记为第二电子元件性能影响因素；再对第一电子元件性能影响因素和第二电子元件性能影响因素通过区间算法和归一化处理后，得到最终电子元件性能影响因素集合；最后使用Elman神经网络，实现对电子元件性能预测。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种超级电容器特征参数的阶跃响应辨识方法

当前第 / 件

一种小运算量的低阶相异实极点线性系统阶数直接式辨识方法

同领域国内专利 · IPC: (G06F18_214)

G06F18_00 G06F18_10 G06F18_15 G06F18_20 G06F18_21 G06F18_211 G06F18_2111 G06F18_2113 G06F18_2115 G06F18_213 G06F18_2131 G06F18_2132 G06F18_2134 G06F18_2135 G06F18_2136 G06F18_214 G06F18_22 G06F18_23 G06F18_231 G06F18_2321 G06F18_23213 G06F18_2323 G06F18_2337 G06F18_24 G06F18_241 G06F18_2411 G06F18_2413 G06F18_2415 G06F18_243 G06F18_2431 G06F18_2433 G06F18_2451 G06F18_25 G06F18_26 G06F18_27 G06F18_40 覆盖36个领域

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