发明专利 已授权

剪切散斑干涉无损检测缺陷尺寸的方法和程序产品

📄 申请号:CN202310670648.9 📄 发布日:2026/09/04

著录项目信息

申请日
2023-06-08
公开号
CN116399874B
公开日
2023-08-22
申请人
华东交通大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

工业无损检测, 航空航天结构检测, 复合材料缺陷检测, 汽车零部件检测, 压力容器检测

摘要

本发明公开了一种剪切散斑干涉无损检测缺陷尺寸的方法和程序产品,方法包括:通过剪切散斑干涉检测成像装置,获得物体内部缺陷所对应的相位图;使用圆形矩阵标定板,获得剪切散斑干涉检测成像装置的系统参数和系统畸变系数;通过系统畸变系数对物体内部缺陷所对应的相位图进行校正;通过深度学习分割模型,对校正后的物体内部缺陷所对应的相位图进行分割,获得缺陷尺寸;通过系统参数,将缺陷尺寸换算成真实物理尺寸。本发明能够解决现有的剪切散斑干涉无损检测缺陷尺寸的方法测量效果差的技术问题,实现缺陷的快速检测和高精度尺寸自动测量。

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这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN116399874B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:87 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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