发明专利已授权

屏幕表面位移场和应变场的测量方法、装置、设备和介质

📄 申请号：CN202510019497.X 📄 发布日：2026/05/07

著录项目信息

申请日

2025-01-07

公开号

CN119413579A

公开日

2025-02-11

申请人

华侨大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N3_08

IPC 分类号

G01N3_08 , G01N3_06 , G01B11_02 , G01B11_16 , G06T7_00 , G06T7_70 , G06T7_80 ,

技术画像

所属领域

位移场测量位移场测量应变场测量光学测量

应用场景

显示面板检测, 屏幕变形测试, 柔性屏测试, 屏幕可靠性评估, 消费电子测试

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摘要

本发明提供一种屏幕表面位移场和应变场的测量方法、装置、设备和介质，涉及屏幕测量技术领域。测量方法包含步骤S1至步骤S6。S1、对TFT‑LCD屏幕进行预处理，以在其表面覆上一层具有随机分布的散斑图案。S2、将TFT‑LCD屏幕样品放置在载物台。S3、调节万能材料试验机的压头的初始位置，设置压头下落速率，以及下压计划。S4、调试三维数字图像相关测量系统，并对TFT‑LCD屏幕进行挤压测试，获取测试数据。S5、对三维数字图像相关测量系统的CCD相机进行标定，获取世界坐标系和相机坐标系之间的转换模型。S6、根据所述测试数据和所述转换模型，计算在TFT‑LCD屏幕受外荷载作用下的位移场及应变场。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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