发明专利 已授权

屏幕表面位移场和应变场的测量方法、装置、设备和介质

📄 申请号:CN202510019497.X 📄 发布日:2026/09/04

著录项目信息

申请日
2025-01-07
公开号
CN119413579A
公开日
2025-02-11
申请人
华侨大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

所属领域

应用场景

显示面板检测, 屏幕变形测试, 柔性屏测试, 屏幕可靠性评估, 消费电子测试

摘要

本发明提供一种屏幕表面位移场和应变场的测量方法、装置、设备和介质,涉及屏幕测量技术领域。测量方法包含步骤S1至步骤S6。S1、对TFT‑LCD屏幕进行预处理,以在其表面覆上一层具有随机分布的散斑图案。S2、将TFT‑LCD屏幕样品放置在载物台。S3、调节万能材料试验机的压头的初始位置,设置压头下落速率,以及下压计划。S4、调试三维数字图像相关测量系统,并对TFT‑LCD屏幕进行挤压测试,获取测试数据。S5、对三维数字图像相关测量系统的CCD相机进行标定,获取世界坐标系和相机坐标系之间的转换模型。S6、根据所述测试数据和所述转换模型,计算在TFT‑LCD屏幕受外荷载作用下的位移场及应变场。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:25 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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