发明专利 已授权

一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统

📄 申请号:CN202510640434.6 📄 发布日:2026/03/13

著录项目信息

申请日
2025-05-19
公开号
CN120177443B
公开日
2025-08-22
申请人
西安理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

材料科学研究, 半导体材料检测, 发光材料分析, 工业无损检测

摘要

本发明涉及一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统,包括会聚部、二向色镜、荧光会聚镜、入射狭缝、光谱仪,其中光谱仪包括第一凹面反射镜、闪耀光栅、第二凹面反射镜,所述会聚部包括沿光路依次排列的第一透镜和第二透镜,所述第一凹面反射镜和所述第二凹面反射镜为离轴凹面反射镜,通过会聚透镜会聚后的光束经过所述材料样品,样品经过光束激发后产生荧光,经过所述二向色镜反射后经过所述会聚透镜,会聚后光束经过所述入射狭缝入射至第一凹面反射镜反射后,经所述闪耀光栅进行光束分光,分光后经所述第二凹面反射镜,最后经探测部探测。本发明的光致发光光谱仪的材料检测光学系统能够实现宽光谱范围的材料光学分析或测试,且具有小型化、轻量化的优点。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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