发明专利已授权

一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质

Name: 一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质
Brand: 武汉工程大学
SKU: 2022103296257
Availability: InStock

📄 申请号：CN202210329625.7 📄 发布日：2026/09/28

著录项目信息

申请日

2022-03-31

公开号

CN114910780A

公开日

2022-08-16

申请人

武汉工程大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R31_3185

IPC 分类号

G01R31_3185 , G01R31_00 ,

技术画像

所属领域

其他分类其他

应用场景

软件系统测试, 云计算, 数据中心, 分布式系统, 高可靠性系统

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摘要

本发明涉及一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测试验数据，将待测试验数据复制得到待测对照组数据；将待测试验数据和待测对照组数据分别输入至第一FPGA状态机和第二FGPA状态机中进行翻转和直接输出，得到第一试验输出数据和对照组输出数据并进行对比，根据比较结果确定第一FPGA状态机的第一输出状态；当第一输出状态为所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据不一致时，重新进行试验得到第二试验输出数据并与对照组输出数据进行对比并根据所述第二比较结果确定所述第一FPGA状态机的故障容错情况。本发明解决了现有技术中对状态机进行单粒子碰撞容错性实验成本高且受实验环境影响导致实验机会少的技术问题。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN114910780A

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种单粒子翻转故障模拟系统、方法及存储介质

当前第 / 件

一种小车自动跟随和躲避目标的方法、系统及装置

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