发明专利 已授权

一种单粒子翻转故障模拟系统、方法及存储介质

📄 申请号:CN202111171013.1 📄 发布日:2026/09/28

著录项目信息

申请日
2021-10-08
公开号
CN114090362B
公开日
2024-09-17
申请人
武汉工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

航天电子设备可靠性测试, 集成电路抗辐射评估, 芯片设计验证, 电子系统故障诊断, 核工业电子设备测试

摘要

本发明提供一种单粒子翻转故障模拟系统、方法及存储介质,包括上位机和下位机,上位机用于导入原始数据、翻转配置信息和标志位信息,并根据标志位信息对原始数据和翻转配置信息的编码分析得到编码信息,并将编码信息发送至下位机,下位机用于接收编码信息,并对编码信息的解码分析得到解码数据,通过构建的模拟故障翻转电路对解码数据的单粒子翻转故障模拟得到模拟后数据,计算解码数据与模拟后数据之间的误码率,并将模拟后数据以及误码率作为模拟结果。本发明能够节约处理系统的板上资源,也增加了数据处理和传输的可靠性,对于占有大比例板上资源的测试电路具有很高的实用性,对于实现模拟单粒子翻转的测试方法提供了指导意义。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:29 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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