发明专利 已授权

一种地质勘探采样装置及采样分析方法

📄 申请号:CN202411834687.9 📄 发布日:2025/09/19

著录项目信息

申请日
2024-12-13
公开号
CN119293710B
公开日
2025-02-25
申请人
沈阳恒创智能装备制造有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

矿产勘查, 地质调查, 岩土工程勘察, 环境土壤采样, 油气勘探

摘要

本发明涉及地质勘探采样分析技术领域,具体涉及一种地质勘探采样装置及采样分析方法。本发明首先获取目标采样位置的地质勘探数据;进一步获取目标采集时刻的局部时域窗口;进一步获取每个采集时刻在局部时域窗口的局部速度变化率、岩层层数、扭矩累积参数,并以采样时刻的时序顺序构成目标采样位置的特征向量;进一步根据目标采样位置的特征向量与其他采样位置的特征向量的差异特征,结合目标采样位置与其他采样位置之间的距离,获取目标采样位置的数据异常系数;最后根据所有采样位置的数据异常系数的离群分布特征,筛选出异常采样位置。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:135 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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