发明专利 已授权

存储器的结构及其形成方法

📄 申请号:CN201910744048.6 📄 发布日:2025/09/08

著录项目信息

申请日
2019-08-13
公开号
CN110429084B
公开日
2022-04-26
申请人
淮安西德工业设计有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

数据中心, 消费电子, 云计算, 嵌入式系统

摘要

一种存储器及其形成方法,结构包括:衬底,所述衬底内具有相邻的第一阱区和第二阱区,所述第一阱区和第二阱区的掺杂类型相反;位于第一阱区和第二阱区内的第一沟槽,且所述第一沟槽自第一阱区延伸至第二阱区;位于所述第一沟槽内的字线栅极结构;位于所述字线栅极结构表面的第一隔离层,所述第一隔离层填充满所述第一沟槽;位于第一阱区内的第二隔离层;位于第一阱区内的源线掺杂区,所述源线掺杂区位于所述第一隔离层和第二隔离层之间;位于第二阱区表面的位线栅极结构。所述存储器的占用面积得到改善。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:112 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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