咨询电话:13280638997
传真:0533-3110363
邮箱:kefu@shizifang.com
摘 要:本发明涉及机器视觉领域,揭露一种芯片缺陷识别方法及系统,所述方法包括:采集待识别芯片的芯片图像,对芯片图像进行去噪处理,得到去噪图像,提取去噪图像的特征标志,计算特征标志的角度特征、距离特征及局部二值特征,并融合角度特征、距离特征及局部二值特征的直方图归一化向量,得到标志融合向量,对标志融合向量与预构建芯片模板图像的模板融合向量进行特征标志匹配,构建芯片图像与预构建芯片模板图像之间的仿射变换矩阵;计算去噪图像的仿射图像与预构建芯片模板图像的差分二值图像;对差分二值图像进行连通区域检测,得到缺陷连通区域,识别缺陷连通区域的芯片缺陷类别。本发明可以提高芯片缺陷识别效率。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202311280308.1 | 专利名称: | 一种芯片缺陷识别方法及系统 |
申请日: | 2023-10-07 | 申请/专利权人 | 深圳模微半导体有限公司 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 广东省深圳市宝安区西乡街道盐田社区银田路4号华丰宝安智谷科技创新园D座509 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/00搜分类 集成电路搜索 |
公开/公告日: | 2024-02-06 | 转让价格: | 19000.0元 |
公开/公告号: | CN117036342B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |