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摘 要:本发明公开了一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法,步骤1:将由介质A、介质B或者介质B、介质A交替排列N层的无缺陷的光子晶体中间一层的介质替换为介质C,形成缺陷光子晶体,N取大于5的奇数;步骤2:在不同环境湿度下,通过改变入射光中心频率,将入射光垂直入射缺陷光子晶体,获取透射系数缺陷峰对应的入射光中心频率,以及相应湿度与中心频率之间的对应关系;步骤3:通过测量入射光缺陷峰强度和中心频率,根据相应湿度与中心频率之间的对应关系反演出当前环境下的湿度。本发明测量精度高,检测范围广,材料获取简单,能够在保证精度的情况下,降低生产成本。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202111184430.X | 专利名称: | 一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法 |
申请日: | 2021-10-11 | 申请/专利权人 | 南京信息工程大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省盐城市盐南高新区新河街道文港南路105号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/41搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 2023-06-13 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN113899717B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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日期 | 法律信息 | 备注 |