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摘 要:本发明公开了一种珩磨缸套表面粗糙度的评估方法,步骤1、采用灰度图像采集系统采集珩磨缸套表面的灰度图像;步骤2、对灰度图像进行消噪;步骤3、确定灰度图像的基准面;步骤4、分离灰度图像中与粗糙度相关的高频信息,即求取高频灰度图像的灰度水平矩阵;步骤5、提取高频信息特征,构造高频灰度图像的Abbott‑Firestone曲线描述其灰度水平的概率密度分布情况;步骤6、构建珩磨加工缸套表面高频灰度图像Abbott‑Firestone曲线特征参数与粗糙度参数之间的映射关系模型。本发明的方法能够避免传统滤波方法在求解灰度图像基准面时表面珩磨网纹造成的局部偏低和边界畸形的现象。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201911241854.8 | 专利名称: | 一种珩磨缸套表面粗糙度的评估方法 |
申请日: | 2019-12-06 | 申请/专利权人 | 西安理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 陕西省西安市碑林区金花南路5号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/00搜分类 表 港口搜索 |
公开/公告日: | 2022-03-25 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN111145144B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2022/03/25 | 授权 | |
2020/06/05 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G06T 7/00 专利申请号: 201911241854.8 申请日: 2019.12.06 |
2020/05/12 | 公开 |