发明专利已授权

定位片上系统时序逻辑错误、错误率计算及其应用方法

📄 申请号：CN201510587267.X 📄 发布日：2025/10/22

著录项目信息

申请日

2015-09-15

公开号

CN105067994B

公开日

2018-08-28

申请人

上海新储集成电路有限公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R31_3185

IPC 分类号

G01R31_3185

技术画像

所属领域

片上系统片上系统时序逻辑错误检测集成电路可靠性测试

应用场景

芯片设计验证, 集成电路测试, 系统级芯片可靠性分析, 电子设计自动化, 容错计算

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摘要

本发明提出一种定位片上系统时序逻辑错误、错误率的计算及其应用的方法，在定位片上系统时序错误时，在同一测试条件下，同一测试指令和/或数据通过PAD口输入P级扫描链、N级流水线以及Q级扫描链，通过控制扫描链使能信号实现对测试指令和/或数据的测试；错误率计算时根据所有的处理结果获取在该环境下测试指令和/或数据的错误率；在降低错误率时，当处理器执行应用程序中的第二指令和/或数据时，第一指令和/或数据替代第二指令和/或数据并实现第二指令和/或数据的相同功能。本发明中用户根据自身应用需要，选择用户可接受错误发生率范围内的芯片，既节约了成本，同时也能满足用户的需求。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20180828

✅ 授权

20151216

?? 实质审查的生效：

20151118

📄 公开

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议价

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📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：56 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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