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一种高斯噪声下提高稀疏孔径成像系统误差检测精度的方法

Name: 一种高斯噪声下提高稀疏孔径成像系统误差检测精度的方法
Brand: 苏州科技大学
SKU: 2016110091735
Availability: InStock

📄 申请号：CN201611009173.5 📄 发布日：2026/11/10

著录项目信息

申请日

2016-11-16

公开号

CN106597415A

公开日

2017-04-26

申请人

苏州科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01S7_497

IPC 分类号

G01S7_497 , G01S17_89 ,

技术画像

所属领域

成像系统光学成像图像处理信号检测成像系统

应用场景

天文观测, 遥感成像, 高分辨率光学成像, 空间目标探测

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摘要

本发明公开了一种高斯噪声下提高稀疏孔径成像系统误差检测精度的方法。以相位差异法中两幅图像的对数似然函数为基础，求得关于稀疏孔径成像系统的Fisher矩阵，通过对Fisher矩阵求逆矩阵的迹和统计分析得到评价因子；通过改变外界参数如焦平面图像的离焦量、焦平面与离焦平面接受到的光子数比来计算相应的评价因子，评价因子的值越小表明相位差异法采用这些参数检测稀疏孔径成像系统误差的精度就越高。本发明提供的评价方法可为选择一种最佳的相位差异法参数配置提供依据，有效提高稀疏孔径成像系统误差检测精度。

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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