实用新型已授权

一种芯片自动化测试装置

📄 申请号：CN202121591445.3 📄 发布日：2025/11/19

著录项目信息

申请日

2021-07-14

公开号

CN216117888U

公开日

2022-03-22

申请人

深圳市凯创芯科技有限公司

法律状态

已下证

专利类型

实用新型

主分类号

G01R31_28

IPC 分类号

G01R31_28

技术画像

所属领域

集成电路测试集成电路测试自动化测试设备半导体测试

应用场景

芯片制造, 半导体封装测试, 电子元器件检测, 集成电路研发, 质量控制

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摘要

本实用新型公开了一种芯片自动化测试装置，包括底座，所述底座的一侧内壁中部固定连接有电动机，且底座的另一侧中部开设有圆形开口，所述电动机的输出轴固定连接有第一转动杆，所述第一转动杆在圆形开口处延伸至底座的外部，所述底座的两侧内壁之间的两侧分别转动连接有第二转动杆和第三转动杆。本实用新型通过设置电动机，电动机驱动第一转动杆带动第一皮带轮转动，第一皮带轮通过皮带使得第二转动杆转动，第二转动杆带动转动辊转动即可使得传送带运行，从而在进行芯片测试时可以利用不断运行的传送带来输送芯片，使得芯片的测试称为流水线工序，提高了芯片测试的效率，让测试过程更为方便和简单。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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同领域国内专利 · IPC: (G01R31_28)

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：118 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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